QB/T 1135一2006 首饰金、银覆盖层厚度的测定X射线荧光光谱法 轻工行业标准

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QB/T 1135一2006.Jewellery一Measurement of gold and silver coating tickness-X-ray fluorescence spectrometric methods.

1范围

QB/T 1135规定了用X射线荧光光谱法测量首饰金、银覆盖层厚度的方法。

QB/T 1135适用于首饰及其他工艺品中金、银等覆盖层厚度的测定(覆盖层与基体为非相同材质)。

注:本方法测定的覆盖层厚度相当于足金或足银的厚度，可根据实际金、银覆盖层含量进行折算。

2规范性引用文件

下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的*新版本。凡是不注8期的引用文件，其*新版本适用于本标准。

QB 1131 首饰金覆盖层厚度的规定(ISO 10713:1992， MOD)

QB1132首饰银覆 盖层厚度的规定

3方法原理

采用X射线荧光光谱法测量金、银覆盖层厚度是通过检测和分析X射线荧光而确定覆盖层厚度的。每种元素的原子都具有其本身独有的电子排列，对于给定的特征X射线，其能量取决于该原子的原子序数，因此，不同的材料将产生不同能量的X射线荧光。通过X射线荧光测厚仪对不同材料发出的特征X射线荧光进行能量分辨和强度的检测，可以确定材料的特性，从而测定覆盖层厚度。

4仪器设备

4.1 X 射线荧光光谱仪。

4.2采用不同基体的覆 盖金、银镀层的标准样块。

4.3仪器自检的参考标样。

5仪器的校准

校准是仪器测量的先决条件，校准的目的是使被测样品覆盖层厚度对X射线荧光发射强度之间建立准确的关系。

5.1校准模式的选择

各类型的X射线荧光测厚仪都具有若干种校准模式，应按覆盖层和基材的类型选用适当的校准模式。

5.2校准模式的输入

选定相应的校准模式后，将采用相应的存储器按规程输入校准模式。当采用标准进行校准时，应采用与测试样品完全一-致的条件 (包括检测孔尺寸，相同覆盖层和基材及测量时间等)。在校准程序结束时，将自动进入测量模式。

(QB/T 1135一2006 首饰金、银覆盖层厚度的测定X射线荧光光谱法标准内容仅部分展示)

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