晶硅材料检验报告

在找晶硅材料试验机构？百检网为您提供晶硅材料试验服务，专业工程师对接确认项目、标准后制定方案，包括晶硅材料试验周期、报价、样品等，确认无误后安排寄样检测，晶硅材料试验常规周期3-15个工作日，欢迎咨询。

检测周期：常规样品、项目3-15个工作日，可加急。特殊样品、项目除外，如功效类检测等。

寄样方式：快递或上门检测

检测费用：依据项目、标准决定。

服务对象：企业、公司、单位、个体商户、高校，非维权纠纷类检测

晶硅材料试验项目：

弯曲度,径向电阻率变化,晶向偏离度,晶向,电阻及电阻率,直径及直径偏差,粒度,翘曲度,边缘轮廓,切口尺寸,厚度和总厚度变化,参考面长度,外观检验,导电类型,少数载流子寿命,局部平整度,工业硅杂质元素硼含量,工业硅杂质元素磷含量,工业硅杂质元素钒含量,工业硅杂质元素钛含量,工业硅杂质元素钠含量,工业硅杂质元素钴含量,工业硅杂质元素钾含量,工业硅杂质元素铅含量,工业硅杂质元素铜含量,工业硅杂质元素铬含量,工业硅杂质元素锌含量,工业硅杂质元素锰含量,工业硅杂质元素镁含量,工业硅杂质元素镍含量,工业硅钙含量,工业硅铁含量,工业硅铝含量,平整度,硅单晶,硅单晶切割片,硅片参考面晶向,多晶硅块,工业硅元素含量,碳含量,硅切割片和研磨片,氧含量,多晶硅片

晶硅材料试验流程：

1、电话沟通、确认需求;

2、推荐方案、确认报价;

3、邮寄样品、安排检测;

4、进度跟踪、结果反馈;

5、出具报告、售后服务;

6、如需加急、优先处理;

晶硅材料试验标准：

1、GB/T 13388-2009 硅片参考面晶向

2、GB/T 14849.3-2020 工业硅化学分析方法 第3部分：钙含量的测定 GB/T 14849.3-2020

3、GB/T 1551-2009 硅单晶电阻率测定方法

4、GB/T1550-2018 非本征半导体材料导电类型测试方法

5、GB/T6620-2009 硅片翘曲度非接触式测试方法

6、GB/T1555-2009 半导体单晶晶向测定方法

7、GB/T 26067-2010 切口尺寸

8、GB/T 14140-2009 硅片直径测量方法

9、GB/T6618-2009 硅片厚度和总厚度变化测试方法

10、GB/T 26071-2010 硅单晶切割片

11、GB/T 29507-2013 平整度

12、GB/T 1557-2018 硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法 GB/T 1557-2018

13、GB/T1553-2009, GB/T 26068-2018 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法 GB/T1553-2009硅片和硅锭载流子复合寿命的测试 非接触微波反射光电导衰减法 GB/T 26068-2018

14、GB/T19922-2005 硅片局部平整度非接触式标准测试方法

15、GB/T 13387-2009 参考面长度

16、GB/T6621-2009 GB/T29507-2013 硅片表面平整度测试方法硅片平整度、厚度及总厚度变化测试 自动非接触扫描法

17、GB/T 6618-2009 厚度和总厚度变化

18、GB/T 1558-2009 碳含量

19、GB/T14849.3-2007 工业硅化学分析方法 第3部分：钙含量的测定

20、GB/T29054-2012 太阳能级铸造多晶硅块

晶硅材料试验报告有什么用？

产品检测报告主要反映了产品各项指标是否达到标准中的合格要求，能够为企业产品研发、投标、电商平台上架、商超入驻、学校科研提供客观的参考。

关于晶硅材料试验检测内容就介绍到这里。做检测，上百检，百检网期待与您的合作。